想用黑白相機配三色光源可否檢測IC腳變形？吸盤(pán)將IC吸起，相機從下向上拍照，檢測IC腳水平方向腳變形和單腳上下翹起變形。這種配置是否可行？

這個(gè)吸了起來(lái)基準就不對了吧，最主要的是要檢測芯片放在平面上后翹的最高的那個(gè)腳的尺寸吧，以前有做過(guò)一排腳相機測平面性的

這個(gè)檢測的最終目的是為了保證芯片放在電路板上，翹的最高，變形最大的那個(gè)腳也能被焊接上，是這樣吧
我以前做的好像是0.1mm吧，按這個(gè)標準來(lái)算
吸筆吸取后，那為了保證翹最高的在這個(gè)值以?xún)�，那檢測是下限就該設定為-0.05，上限為+0.05，因為當最低的-0.05的腳把整體都架高了，那+0.05就比實(shí)際接觸面高了0.1了
單實(shí)際當芯片放到平面上后，-0.05的腳的數量，位置，實(shí)際并不一定會(huì )把產(chǎn)品架高0.05，
就是吸筆吸取的那個(gè)面與電路板的平面不平行，就是芯片放下后因重力作用沒(méi)有放平，最低的3個(gè)或是4個(gè)先接觸了
同樣，那個(gè)最高的翹起實(shí)際也打不到+0.05，就是整個(gè)芯片翹最高的腳不是0.1
實(shí)際就是為了保證沒(méi)有不良，無(wú)形中增加了檢測要求，
當然也可以用運算來(lái)處理，每個(gè)角不同的尺寸計算出接觸平面時(shí)的基準平面，再計算每個(gè)腳的高度，變形等
但如果客戶(hù)要求這么做也無(wú)可厚非，
只是說(shuō)這樣檢測和實(shí)際應用存在差異