這個(gè)檢測的最終目的是為了保證芯片放在電路板上,翹的最高,變形最大的那個(gè)腳也能被焊接上,是這樣吧
我以前做的好像是0.1mm吧,按這個(gè)標準來(lái)算
吸筆吸取后,那為了保證翹最高的在這個(gè)值以?xún),那檢測是下限就該設定為-0.05,上限為+0.05,因為當最低的-0.05的腳把整體都架高了,那+0.05就比實(shí)際接觸面高了0.1了
單實(shí)際當芯片放到平面上后,-0.05的腳的數量,位置,實(shí)際并不一定會(huì )把產(chǎn)品架高0.05,
就是吸筆吸取的那個(gè)面與電路板的平面不平行,就是芯片放下后因重力作用沒(méi)有放平,最低的3個(gè)或是4個(gè)先接觸了
同樣,那個(gè)最高的翹起實(shí)際也打不到+0.05,就是整個(gè)芯片翹最高的腳不是0.1
實(shí)際就是為了保證沒(méi)有不良,無(wú)形中增加了檢測要求,
當然也可以用運算來(lái)處理,每個(gè)角不同的尺寸計算出接觸平面時(shí)的基準平面,再計算每個(gè)腳的高度,變形等
但如果客戶(hù)要求這么做也無(wú)可厚非,
只是說(shuō)這樣檢測和實(shí)際應用存在差異